Kelajuan cahaya telah sering diukur oleh ahli Fisika. Pengukuran awal yang paling baik dilakukan oleh Olaus Roemer (ahli Fisika Denmark), pada 1676. Beliau menciptakan kaedah mengukur kelajuan cahaya. Beliau mendapati dan telah mencatatkan pergerakan planet Saturnus dan satu dari bulannya dengan menggunakan teleskop. Rolmer mendapati bahwa bulan tersebut mengorbit Saturnus sekali setiap 42½ jam. Masalahnya adalah apabila bumi dan Saturnus berjauhan, putaran orbit bulan tersebut kelihatan bertambah. Ini menunjukkan cahaya memerlukan waktu lebih lama untuk sampai ke Bumi. Dengan ini kelajuan cahaya dapat diperhitungkan dengan menganalisa jarak antara planet pada masa-masa tertentu. Roemer mencapai kelajuan 227.000 kilometer per sekon.
Albert A. Michelson memperbaiki hasil kerja Roemer pada tahun 1926. Dia menggunakan cermin berputar untuk mengukur waktu yang diambil cahaya untuk pergi balik dari Gunung Wilson ke Gunung San Antonio di California. Ukuran jitu menghasilkan kelajuan 299.796 kilometer/sekon. Dalam penggunaan sehari-hari, jumlah ini dibulatkan menjadi 300.000 kilometer/sekon.
Ellipsometer Sederhana
Ellipsometer adalah suatu alat yang dapat dipergunakan untuk pengukuran sifat-sifat optik dari suatu media yang didasarkan pada analisis fenomena pantulan sinar terhadap suatu media tersebut yaitu perubahan pengutuban (polarization) sinar dengan panjang gelombang tertentu yang terjadi sewaktu sinar dipantulkan atau diteruskan pada media tersebut. Dengan menganalisa perubahan intensitas sinar akibat pantulan gelombang tersebut, maka dimungkinkan untuk mengetahui berbagai parameter sifat optik seperti parameter indek bias, ketebalan, koefisien serapan, dan lain-lain dari medium yang dikenainya.
Beberapa faktor keuntungan yang dapat diperoleh dari alat ini antara lain: (i) tidak mengganggu sifat-sifat fisis dari permukaan sampel yang diukurnya untuk panjang gelombang tertentu yang dapat dipilih, (ii) cukup sensitif untuk pengukuran antarmuka (interface) dari suatu struktur media yang memiliki ukuran cukup kecil, (iii) dapat dioperasikan pada udara bebas (tidak harus pada kondisi khusus seperti ruang hampa), dan (iv) dapat diperoleh hasil secara langsung (in situ) dari pengukuran. Secara umum alat ellipsometer dapat dipergunakan untuk mengukur sifat-sifat optik suatu bahan baik padat maupun cair yang memiliki sifat isotropik (sifat optik tidak tergantung arah) ataupun anisotropik (sifat optik tergantung arah). Selain itu media yang akan diukur dapat berupa lapisan tipis (thin film) atau berupa lapisan yang tebal (bulk).